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NLZH-15夫蘭克-赫茲實驗儀 儀器簡介： 此設(shè)備采用液晶觸摸顯示屏式結(jié)構(gòu)，操作便捷，可直觀操作和讀數(shù)，直觀便捷，夫蘭克--赫茲實驗為研究原子內(nèi)部的能量時態(tài)問題，用低速電子去轟擊原子，從而觀察他們之間的相互能量傳遞過程，證明原子內(nèi)部量子化的存在。

NLZH-6B光電效應(yīng)實驗儀（普朗克常量） 儀器簡介： 此儀器是利用光電效應(yīng)的原理來計算普朗克量數(shù)，首先要得到不同光照頻率的遏制電壓，做出遏制電壓與光照頻率的關(guān)系曲線--一條直線，由于遏制電壓滿足Ube=hv/EW0/e，則該直線的斜率為h/e，用計算機模擬可以得到該直線的方程式，然后得到其斜線率，這樣普朗克常量h=ke就可以了。

HNL-55700多束光纖激光源采用550mm中功率激光管和進口高傳輸性光纖，通過精密光學(xué)分束機構(gòu)分至七束光纖，每束光纖長度為4米，多為七臺邁氏干涉儀提供擴束光源。

XGS-3 電子及激光散斑實驗系統(tǒng) 本實驗包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內(nèi)位移場的測試，以及由此引伸出來的應(yīng)變、應(yīng)力場測試、距離、速度測試、物體內(nèi)在缺陷和振動分析是散斑效應(yīng)有前途的應(yīng)用領(lǐng)域。

XGS-2 激光散斑照相實驗裝置 利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內(nèi)位移場的測試，以及由此引伸出來的應(yīng)變，距離，速度測試，物體內(nèi)在缺陷和振動分析是散斑效應(yīng)有前途的應(yīng)用領(lǐng)域。 實驗內(nèi)容 1、拍攝自由空間散斑和成像散斑圖，了解激光散斑現(xiàn)象及其特點 2、掌握二次曝光散斑圖的逐點分析和全場分析測物體面內(nèi)位移的方法

XGS-1 電子散斑干涉實驗系統(tǒng) 電子散斑干涉（ESPI）實驗系統(tǒng)借助于粗糙表面信息的攜帶者——散斑來研究物體離面形變，是計算機圖像處理技術(shù)、激光技術(shù)以及全息干涉技術(shù)相結(jié)合的一種現(xiàn)代光測技術(shù)。激光的高相干性使散斑現(xiàn)象顯而易見，采用CCD攝像機，使之可采用計算機處理數(shù)據(jù)和圖像。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛，如物體形變測量、無損測量、振動測量等。

SGD-2 單光子計數(shù)實驗系統(tǒng) 該實驗系統(tǒng)，由單光子計數(shù)器，半導(dǎo)體制冷系統(tǒng)，外光路光學(xué)系統(tǒng)，光功率指示儀，工作軟件等組成。系統(tǒng)采用了脈沖高度甄別計數(shù)和數(shù)字計數(shù)技術(shù)，具有較高的線性動態(tài)范圍。輸出的數(shù)字信號，便于計算機處理，為教師做相關(guān)教學(xué)提供了必要的實驗環(huán)境。

WGL-8晶體電光調(diào)制實驗儀由電場所引起的晶體折射率的變化，稱為電光效應(yīng)．通過利用典型的LiNbO3晶體橫向電光效應(yīng)原理的激光振幅調(diào)制器的使用，掌握晶體電光調(diào)制的原理和實驗方法；學(xué)會用簡單的實驗裝置測量晶體半波電壓，電光常數(shù)；觀察電光效應(yīng)引起的晶體光學(xué)特性的變化和會聚偏振光的干涉現(xiàn)象；進行激光通信演示實驗。

WGL-3 脈沖調(diào)Q Nd：YAG倍頻激光器實驗裝置 該實驗系統(tǒng)讓學(xué)生通過自己動手裝調(diào)激光器，掌握激光器的基本結(jié)構(gòu)、主要參數(shù)、輸出特性、調(diào)整方法、以及調(diào)Q、選模、倍頻等。使學(xué)生對激光器的原理，激光技術(shù)有較全面的認識。

WGL-6 氦氖激光器模式分析實驗裝置 在激光器的生產(chǎn)與應(yīng)用中，我們通常需要先知道激光器的模式狀況，如精密測量、全息技術(shù)等工作需要基橫模輸出的激光器，而激光器穩(wěn)頻和激光測距等不僅要基橫模而且要求單縱模運行的激光器。因此，進行模式分析是激光器的一項基本又重要的性能測試。