光伏行業(yè)

配置方案：RTS-4四探針測(cè)試儀、DJ-Ⅱ電動(dòng)測(cè)試臺(tái)、FT-203四探針探頭、測(cè)試軟件（含測(cè)控模塊）

觸摸屏行業(yè)

所有的四探針測(cè)試儀都適合用來測(cè)量薄膜的方塊電阻如果被測(cè)的樣品在儀器的方塊電阻測(cè)量范圍內(nèi)。不過對(duì)于薄膜樣品測(cè)試方塊電阻推薦使用RTS-5、RTS-9雙電測(cè)四探針測(cè)試儀，采用雙電測(cè)四探針測(cè)試方法在搭配我司于測(cè)試薄膜的四探針探頭，此四探針測(cè)試探頭球形探針（探針針尖曲率半徑0.5mm或0.75mm，探針間距1.59mm或3.8mm）鍍金探針，有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜不被損傷、刺穿；
雙電測(cè)試方法是采用了四探針雙位組合測(cè)量新技術(shù)，將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上，利用電流探針電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。 

 觸摸屏行業(yè)用戶建議配置RTS-5型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀或是ST-21方塊電阻測(cè)試儀（手持式）。配置方案1：RTS-5雙電測(cè)四探針測(cè)試儀、S-2C測(cè)試臺(tái)、HP-501四探針探頭、測(cè)試軟件（含測(cè)控模塊） 

配置方案2：ST-21方塊電阻測(cè)試儀、HP-501四探針探頭

IC和輕工行業(yè)

鋰電池行業(yè)：比亞迪、比克、天齊鋰業(yè)、中電十八所等用于測(cè)電阻率和方塊電阻

配置方案：RTS-8四探針測(cè)試儀、S-2B測(cè)試臺(tái)、FT-202四探針探頭、測(cè)試軟件（含測(cè)控模塊）

電力電容行業(yè)：基美、鷹峰、柯貝爾等用于測(cè)試方塊電阻

配置方案：RTS-4/RTS-5四探針測(cè)試儀、S-2B測(cè)試臺(tái)、SP-601方型四探針探頭、測(cè)試軟件（含測(cè)控模塊）

石墨烯行業(yè)：重慶墨烯、無錫格菲等測(cè)試方塊電阻

配置方案：RTS-9雙電測(cè)四探針測(cè)試儀、S-2B測(cè)試臺(tái)、HP-504四探針探頭、測(cè)試軟件（含測(cè)控模塊）

半導(dǎo)體行業(yè)：中國(guó)電子科技集團(tuán)第四十六研究所用于測(cè)試區(qū)熔高阻單晶電阻率

配置方案：RTS-8四探針測(cè)試儀、S-2B測(cè)試臺(tái)、FT-202四探針探頭、測(cè)試軟件（含測(cè)控模塊）

ITO耗材行業(yè)：株洲冶煉集團(tuán)股份有限公司用于測(cè)試電阻率

配置方案：RTS-8四探針測(cè)試儀、S-2B測(cè)試臺(tái)、HP-504四探針探頭、測(cè)試軟件（含測(cè)控模塊）

CV2000電容電壓測(cè)試儀搭配ST102A探針臺(tái)應(yīng)用于分立器件工藝監(jiān)測(cè)方案